场发射扫描电子显微镜（FESEM）具有观察、测量、分析和操纵纳米尺度物体的强大能力。本中文网站研究所拥有超高分辨率卡尔蔡司FESEM (LEO 1530 VP)，配有能量色散x射线光谱仪（EDS）探测器。我们的FESEM还与JC Nabity纳米光刻系统集成，并执行电子束纳米图像化。凭借GEMINI超高性能电子光学和可变压力技术的独特组合，FESEM提供了一系列不同材料的应用，如半导体、地质、生物和纳米级复合材料。
FESEM的规格和功能（LEO 1530 VP）
- 超高分辨率肖特基热发射器（20kv时1nm， 1kv时2.5 nm）
- 环形镜内SE检测器和侧面SE检测器，采用专利的GEMIN透镜
- 使用OXFORD EDS进行元素分析（点、线和区域EDS分析以及EDS映射）
- X /y/z轴电动舞台允许高达45°倾斜
- JC Nabity电子束纳米图像化系统
- 纳米尺度物体的操作和微探针的原位测量
用户率
费率将基于每小时或每个样本的基础上，并将与客户协商后决定。
内部费率：40美元/小时*
外部收费：70美元/小时。
培训要求:50美元/小时。
消耗品按成本价收费。
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周伟烈博士邮箱：wzhou@uno.edu
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