扫描电子显微镜（SEM）是一种电子显微镜，通过用聚焦的电子束扫描样品来产生样品表面的图像。我们实验室的JEOL JSM-5410扫描电镜能够利用二次电子或背散射电子对样品表面形貌进行成像，并配备能量色散x射线光谱仪（EDS）进行化学分析。有了坚固的W灯丝，扫描电镜能够表征不同的材料，如半导体、地质、生物和复合材料。
JSM-5410 SEM的规格和功能
- 分辨率：3.5 nm （Accv. 30 kV, WD = 6 mm，二次电子图像）
- 放大倍率：x15 （WD = 48 mm）至200000（25步）
- 图像模式:
- 二次电子像（SEI） HV模式
- 背散射电子成像（BEI） HV模式
- 背散射电子成像（BEI）低电压模式
- 加速电压：0.5 ~ 30kv
- EDAX Genesis软件：点，线，和区域EDS分析以及EDS映射
用户率
费率将基于每小时或每个样本的基础上，并将与客户协商后决定。
辅助使用：$20/小时*
培训要求:25美元/小时。
自用:10美元/小时。
消耗品按成本价收费。
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周伟烈博士邮箱：wzhou@uno.edu
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