纳米技术的中文网站研究依赖于观察、测量、分析和操纵纳米尺度物体的能力。在大多数科学仪器中，电子显微镜由于电子束的波长极短，具有很高的放大倍率和分辨率，可以分辨原子尺度（亚纳米级）的结构。在AMRI，透射电子显微镜（JEM-2010 TEM）也能够对纳米材料和块状材料进行详细的结构表征。我们的内部样品制备仪器和不同的TEM持有人的可用性使我们能够表征各种材料，如半导体，金属，软材料等，结构和化学。
JEM-2010的规格和功能
- 灯丝：LaB6灯丝，在200KeV下点分辨率为0.23 nm
- 加速电压：80-200 kV，放大倍率X2000 ~ x150万
- Gatan CCD相机：捕捉高分辨率图像
- EDAX附件用于能量色散谱（EDS）分析
- 各种试样架：单倾斜，低背景双倾斜，高温保持等
用户率
费率将基于每小时或每个样本的基础上，并将与客户协商后决定。
内部费率：35美元/小时*
外部收费：65美元/小时。
培训要求:50美元/小时。
负片$1/片，Cu TEM栅格$2/片
联系我们
周伟烈博士邮箱：wzhou@uno.edu
样品数据：gan NW和In2O3 NP
